System 8200 Metop

Metop System 8200 Manuel Mikroskop

Mikroskop ile, herhangi bir kalınlığın yanı sıra antimissil ve diğer parametreleri de ölçülebilir.
Herhangi bir plaka kalınlığı ölçümü için kullanılabilir.
Yeni dokunmatik ekran ve ayak pedalı, ölçüm hızınızı artırmanıza olanak tanır.
Otomatik odaklama daha da hassas okumalar sağlar, operatörden bağımsız ve ergonomiktir.